選購(gòu)插拔力試驗(yàn)機(jī)時(shí)需要注意哪些事項(xiàng)呢？
1、控製模塊
很多公司還在用采集卡以及運(yùn)動(dòng)控製卡等的關(guān)鍵原因：是因?yàn)楹芍夭杉娐泛蛿?shù)據(jù)采集電路無(wú)法做到集成在一起後互相屏蔽信號(hào)乾擾，而並不是為了提高采集數(shù)據(jù)的頻率?，F(xiàn)在很多都摒棄了多張數(shù)據(jù)卡拚裝的技術(shù)，走向高集成化的時(shí)代。
2、內(nèi)部結(jié)構(gòu)
在打開(kāi)機(jī)箱內(nèi)部時(shí)，就會(huì)發(fā)現(xiàn)內(nèi)部布線雜亂無(wú)章，給維修帶來(lái)不便。我們箱體內(nèi)布線全部是插接件，在現(xiàn)如今一切產(chǎn)品設(shè)計(jì)都追求極簡(jiǎn)設(shè)計(jì)的時(shí)代，在技術(shù)條件內(nèi)合理的整合才是符合產(chǎn)品發(fā)展規(guī)律的。
3、導(dǎo)通電阻
帶動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試功能的，而不是簡(jiǎn)單的外部連接歐姆阻抗機(jī)。應(yīng)該是內(nèi)部帶阻抗板，軟件帶阻抗測(cè)試功能，測(cè)試連接器的動(dòng)態(tài)阻抗變化曲線，按鍵開(kāi)關(guān)的導(dǎo)通點(diǎn)斷開(kāi)點(diǎn)以及接觸電阻。
4、硬件

低端的做壽命測(cè)試時(shí)行程會(huì)有漂移，驗(yàn)證方法就是插拔力試驗(yàn)機(jī)做空運(yùn)行連續(xù)10000次壽命測(cè)試，移動(dòng)橫梁放一固定參照物，做完測(cè)試後，看橫梁是否還在原來(lái)的位置。